\(
\def\WIPO{World Intellectual Property Organisation}
\)
PATENT UND ETHIK IM SPIEGEL DER TECHNISCHEN EVOLUTION / Hans Beyer.
1994
28 DE
Available at WIPO Library
Formatos
| Formato | |
|---|---|
| BibTeX | |
| MARCXML | |
| TextMARC | |
| MARC | |
| DataCite | |
| DublinCore | |
| EndNote | |
| NLM | |
| RefWorks | |
| RIS |
Items
Detalles
Título
PATENT UND ETHIK IM SPIEGEL DER TECHNISCHEN EVOLUTION / Hans Beyer.
Autor
Tipo de elemento
Journal article
Descripción
1 volume ([18] pages) ; [28] cm.
Número de llamada alternativo
28 DE
Serie
Grur : Gewerblicher Rechtsschutz Und Urheberrecht ; 1994 Heft 8/9 pages 541-559.
Publicado
Cologne [Germany] : German Association for the Protection of Intellectual Property (GRUR), 1994.
Lengua(s)
ger
El registro aparece en