\(
\def\WIPO{World Intellectual Property Organisation}
\)
PATENT UND ETHIK IM SPIEGEL DER TECHNISCHEN EVOLUTION / Hans Beyer.
1994
28 DE
Available at WIPO Library
Items
Details
Title
PATENT UND ETHIK IM SPIEGEL DER TECHNISCHEN EVOLUTION / Hans Beyer.
Author
Item Type
Journal article
Description
1 volume ([18] pages) ; [28] cm.
Alternate Call Number
28 DE
Series
Grur : Gewerblicher Rechtsschutz Und Urheberrecht ; 1994 Heft 8/9 pages 541-559.
Published
Cologne [Germany] : German Association for the Protection of Intellectual Property (GRUR), 1994.
Language
German
Record Appears in