PATENT UND ETHIK IM SPIEGEL DER TECHNISCHEN EVOLUTION /: Hans Beyer.

$\def\WIPO{World Intellectual Property Organisation}$

PATENT UND ETHIK IM SPIEGEL DER TECHNISCHEN EVOLUTION / Hans Beyer.

Beyer, Hans, author.

1994

28 DE

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Title

PATENT UND ETHIK IM SPIEGEL DER TECHNISCHEN EVOLUTION / Hans Beyer.

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Description

1 volume ([18] pages) ; [28] cm.

Alternate Call Number

28 DE

Series

Series

Grur : Gewerblicher Rechtsschutz Und Urheberrecht ; 1994 Heft 8/9 pages 541-559.

Published

Cologne [Germany] : German Association for the Protection of Intellectual Property (GRUR), 1994.

Language

German

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